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电容正确接入芯片的电路及方法⑤
作为进一步的技术方案,该检测方法具体为:上电伊始,先同时打开开关管、第二开关管、第三开关管,使得同时给电容、第二电容和芯片引脚电容进行充电,然后再在设定的一个时间内 ,去比较三个电容所充的电压值,如果电容的电压值<芯片引脚电容的电压值,且第二电容的电压值>芯片引脚电容的电压值,则说明芯片引脚电容正常接入,能正常开启芯片。与现有技术相比,本发明能够在集成电路主体功能电路工作之前,对引脚的连接性进行自我检测,在满足设定的条件下,才进入正常的启动过程,如果检测到引脚的电容出现异常,将对芯片进行锁定,直至问题解决。从而确保在引脚连接异常的情况下,芯片限制工作不会因工作异常而导致损坏。如图1所示,本发明提供一种基于电容范围来检测芯片引脚电容正确接入的电路,该电路包括电流源I1、第二电流源I2、第三电流源I3、开关管M1、第二开关管M2、第三开关管M3、电容C1、第二电容C2、比较器、第二比较器和与门电路。开关管M1、第二开关管M2、第三开关管M3的控制信号端相连,G1是三个开关管的控制信号,G1高电平表示开关打开,低电平表示开关关断。开关管M1的一端连接电流源I1,开关管M1的另一端分别连接电容C1、第二比较器的负极端。电容C1的另一端接地。第二开关管M2的一端连接第二电流源I2,第二开关管M2的另一端分别连接第二电容C2、比较器的正极端。第二电容C2的另一端接地。第三开关管M3的一端连接第三电流源I3,第三开关管M3的另一端分别比较器的负极端、第二比较器的正极端、芯片A2的输出信号端、芯片引脚电容Cout。芯片引脚电容Cout的另一端接地。比较器和第二比较器的输出端分别连接与门电路的两个输入端,与门电路的输出端连接芯片A2的开启信号端。开关管为PMOS、NMOS、NPN、PNP中的一种。第二开关管为PMOS、NMOS、NPN、PNP中的一种。第三开关管为PMOS、NMOS、NPN、PNP中的一种。V1表示电容C1结点的电压值; V2表示电容C2结点的电压值; A2表示原有的基本芯片电路;芯片A2与芯片引脚电容Cout相连的线是原有的信号,表示输出信号。芯片A2与与门电路的输出端相连, 用检测的外部电容OK的信号,去开启A2原有的基本芯片电路。本发明利用充电来判断电容在一定的范围内,进而实现芯片引脚电容是否正确接入的检测。如图2所示,本发明的工作流程是:芯片A2上电后,检测芯片引脚电容,然后判断芯片引脚电容是否有电容,如果判断为是,则芯片A2正常工作输出,如果判断为否,则重新检测芯片引脚电容。
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性能特点:电容器ESL小,谐振频率高;适合键合组装方式,与半导体芯片相同的装配工艺;容量高,相比单层陶瓷电容器体积更小,可提供良好的温度特性;应用GaAs、GaN芯片的外围电路;电路滤波与静噪;微组装电路中的滤波与静噪;其他需要小型化的微组装领域,可替代部分单层电容。
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